Tarmoq ichidagi sinov
Chop etilgan elektron kartani sinash uchun eng kuchli va keng qamrovli vositalardan biri bu In-Circuit Test (AKT) deb nomlanadi. AKT sinov uskunalari bort montajidagi elektron neslarga kirish uchun va tarkibiy qismlarni izolyatsiya qilingan asosda o'lchash uchun tirnoqlardan foydalanadi. Ya'ni, boshqa elektr komponentlariga qaramasdan, bir vaqtning o'zida bitta komponent. Analog tarkibiy qismlarning qarshiligi, sig'imi, indüktansi, ishlashi, shuningdek, raqamli davrlarning ba'zi funktsiyalari o'lchanishi mumkin. Raqamli kontaktlarning zanglashiga olib borishi to'liq sinovni juda qimmatga keltirishi mumkin, ammo aks holda AKT bosilgan elektron platalarning to'g'ri ishlab chiqarilganligini tekshirishning asosiy vositasi bo'lishi mumkin va shuning uchun belgilangan muddatda ishlash ehtimoli yuqori bo'ladi.
Umumiy nuqtai
AKT uskunalari har bir tarkibiy qismni to'g'ri va to'g'ri joylashishini tekshirish uchun birma-bir o'lchab turadi. Ko'pgina montaj qusurlari qisqa, ochilgan yoki noto'g'ri qismlardan iborat bo'lgan ishlab chiqarish jarayonida yuzaga kelganligi sababli, AKT ushbu turdagi nuqsonlarni aksariyatiga etkazishi mumkin. IClar ishlamay qolganda, asosiy sabablardan biri statik shikastlanishdir. Ushbu kamchiliklarni AKT yordamida ham aniqlash mumkin. Ba'zi testerlar yuqori ishonchni ta'minlash uchun hatto IClarning funktsional imkoniyatlarini sinab ko'rishlari mumkin.
AKT kontaktlarning zanglashiga olib kirishini funktsional ravishda sinovdan o'tkazmaydi, shuning uchun montaj ishlashiga kafolat bermaydi. Dizayn to'g'ri isbotlanganidan keyin uni yig'ishning to'g'ri bajarilishini ta'minlash uchun foydalanish mumkin.
AKT uskunalari
O'lchovlarni o'rnatish va bajarish uchun ishlatiladigan drayverlar va sensorlar matritsasining tester-tizimi. Bu turli xil taxta dizaynlari uchun ishlatilishi mumkin.
Armatura - AKT tizimidagi armatura bilan ulash interfeysi. Armatura - bu AKT va sinovdan o'tkaziladigan individual birlik o'rtasidagi maxsus mo'ljallangan interfeys. Bu haydovchi sensori nuqtalari uchun ulanishlarni oladi va ularni jihozning sinov joyidagi bahorga o'rnatilgan pinlar yoki "mixlar" orqali o'rnatadi. Bu har bir sinov uchun mo'ljallangan noyob birlik.
Dastur-bu sinovdan o'tkaziladigan har bir taxta turi uchun yozilgan. Sinov tizimini nazorat qiladi, sinov uchun ballni, o'tish / muvaffaqiyatsiz mezonlar uchun qiymat oralig'ini belgilaydi. Dastur shuningdek, har bir montaj dizayni sinovdan o'tkazilishi uchun noyobdir.
AKT tizimlari sotib olish uchun nisbatan qimmat va foydalanishning yuqori narxiga ega (maxsus moslamalar va dasturlash tufayli). Shunday qilib, odatda yuqori hajmli va yuqori qiymatli yig'ilishlarda qo'llaniladi.
Sinov qamrovi
Amalda aytganda, 100% test bilan qamrab olish mumkin emas, chunki:
Montajdagi barcha elektron tugunlarga jismoniy kirish.
Sinov tizimining ichki sig'imi yoki indüktivi sifatida past qiymatli kondansatör yoki indüktörler, aniq sinovni maskalashi mumkin.
Tizimning quvvatiga qarshi tugunlarning umumiy soni uchun tizim cheklovlari. Shu bilan birga, "nomuvofiq test", ma'lum bir darajadagi ishonchni qozonish uchun, imkoniyatlar muammosi mavjud bo'lganda ishlatilishi mumkin. Ushbu usul bir nechta tarkibiy qismlarni o'z ichiga olgan kontaktlarning zanglashiga olib keladigan katta bo'limlari bitta ob'ekt sifatida sinovdan o'tkaziladi.
IC testerlarining turlari
Bir nechta turli xil testerlar odatda mavjud. Tanlash ishlab chiqarish / sinov jarayoni, ishlab chiqarish hajmi va mahsulot dizayniga bog'liq
Standart - asosiy qarshilik, doimiylik, sig'im va ba'zi funktsiyalarni bajarishga qodir bo'lgan mashinalar.
Uchuvchi zond - jihozni sinov ostida ushlab turuvchi oddiy armatura, u bir necha zondlar orqali kontaktga ega bo'lib, ular bort bo'ylab harakatlanishi va kerak bo'lganda aloqani amalga oshirishi mumkin. Harakatlar dasturiy ta'minot nazorati ostida amalga oshiriladi, shuning uchun har qanday yangilanishlarni dasturiy ta'minotda emas, balki "mix-mix" sinov moslamasida joylashtirish mumkin.
Defekt analizatori (MDA) - bu qarshilik, uzluksizlik va izolatsiyaning asosiy zanjirli sinovini taqdim etadi. Ammo yo'llardagi qisqa tutashuvlar va ochiq elektron ulanishlar kabi ishlab chiqarish kamchiliklarini aniqlash bilan cheklangan.
AKT ko'pgina afzalliklarga ega va elektron plataning sinov versiyasining ideal shakli bo'lishi mumkinligi sababli, elektron komponentlarning o'lchamlari pasayishi va zichligi oshgani sayin, barcha tugunlarga kirish qiyinlashadi va shuning uchun boshqa sinov usullarini ko'rib chiqish kerak bo'lishi mumkin.
